品質への取り組み

品質方針（スローガン：顧客満足第一に徹する）

当社は、顧客ニーズに適合した半導体製品を提供し、社会に貢献することが最重要課題であると認識し、製品の品質維持・向上に努める。
１．当社の事業活動と品質マネジメントシステムを適切に融合させ、全員参加によりその有効性を継続的に改善する。
２．顧客要求事項及び関連法規制への適合に加え、社会的要求事項を配慮し、安心して使っていただける製品を提供する。
３．顧客ニーズを満たすため購入先の理解を求め、相互に有益な関係を維持しつつ、双方の価値創造能力を高める。
４．品質目標を設定し、PDCAサイクルを確実に回すことにより、その達成を図る。

認証取得状況

フェニテックでは品質に対する外部認証について、ISO9001を取得済みです。また、より厳格なマネジメントを求められる自動車産業品質マネジメントシステムIATF16949を2018年に取得しました。

取得認証名	ISO9001：2015 登録証はこちら
事業所	岡山第1工場/岡山第2工場/鹿児島工場/営業本部　京都営業部
登録番号	JQA-1829
初回登録日	1997年8月1日
審査機関	一般財団法人 日本品質保証機構
登録範囲	半導体素子及び、半導体集積回路ウェハーの設計・開発及び製造
有効期限	2024年9月30日

取得認証名	IATF16949：2016 登録証はこちら
事業所	岡山第1工場	鹿児島工場
登録番号	JQA-AU0036-1	JQA-AU0036-3
初回登録日	2014年12月12日	2020年11月20日
審査機関	一般財団法人 日本品質保証機構
登録範囲	半導体素子及び半導体集積回路の設計及び製造
有効期限	2024年9月30日	2024年9月30日

品質保証体制

フェニテックには40年以上の半導体製造で蓄積された製品設計・プロセス技術及び製造のノウハウがございます。これらのノウハウを駆使し、高品質な製品を適正な価格と適切な納期でご提供しております。

解析装置一覧
Metaloscope（w/photographic device）	金属顕微鏡
FE SEM	電界放射型電子顕微鏡
STEM	走査透過電子顕微鏡
FIB	集束イオンビーム断面観察装置
Optical Beam Induced Resistance Change	OBIRCH解析装置
Photo Emission Microsopy	エミッション顕微鏡
TXRF	全反射蛍光X線
ICP-MS	ICP質量分析